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SCHNEIDER人體綜合測(cè)試儀SL-031參數(shù)設(shè)置使用方法
日期：2015-03-06瀏覽：4605次
斯萊德DR.SCHNEIDER.PC人體綜合靜電ESD測(cè)試儀SL-031參數(shù)設(shè)置使用方法
1.參數(shù)本身都是依照國(guó)標(biāo)設(shè)置好了的，不低于750KΩ【即下限】，不高于10MΩ【即上限】（用于測(cè)試手腕帶）和不低于750KΩ【即下限】，不高于100MΩ【即上限】（用于測(cè)試鞋），除了用戶自己有特殊需要外一般不用修改；
2.測(cè)試時(shí)，只要雙腳踏在踏板上，戴好手腕帶連接到測(cè)試儀的手腕接線口上【如果沒有使用到手腕帶，那就不用做這步】，手指輕輕按在金屬測(cè)試按鈕就可以確定整個(gè)人體連同穿戴物靜電測(cè)試是否合格。左右腳分開單獨(dú)測(cè)試，左右手分開單獨(dú)測(cè)試那都是沒有必要的，除非用戶自己有特殊需要。
斯萊德SCHNEIDER人體綜合靜電ESD測(cè)試儀SL-031使用就是測(cè)試人體穿戴的靜電裝備（防靜電鞋，防靜電衣，靜電手腕帶，靜電腳腕帶）是否符合要求，如果不能通過測(cè)試的話，重新檢查穿戴的東西（比如是否穿戴好，或者是否靜電過大需要經(jīng)過離子風(fēng)墻去除離子靜電）。其他光腳不穿鞋，或者不穿防靜電的衣服帽子鞋子來(lái)測(cè)試都是不科學(xué)的，也是實(shí)驗(yàn)室不允許的，沒有測(cè)試的必要。
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國(guó)產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽(yáng)SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 哈希HACH/萬(wàn)通Metrohm
- 賽多利斯/奧豪斯OHAUS
- 艾卡IKA
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 梅特勒METTLER
- 博勒飛Brookfield
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 賽默飛Thermo X射線光譜儀
- 美國(guó)BK PRECISION
- 紅外熱像儀
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ADCMT愛德萬(wàn)ADVANTEST
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(zhǎng)盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國(guó)產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長(zhǎng)盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- 安捷倫Agilent色譜質(zhì)譜GC
- 默克Merck密理博Millipore
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- 德維創(chuàng)DEWETRON
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