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新品推薦常州同惠TH2661四探針測(cè)試儀
日期：2012-11-16瀏覽：2792次
新品推薦常州同惠TH2661四探針測(cè)試儀
性能特點(diǎn)
大屏幕液晶顯示
可手動(dòng)或自動(dòng)選擇合適的電流源量程
預(yù)設(shè)樣片厚度，自動(dòng)修正，直讀電阻率
200個(gè)讀數(shù)存儲(chǔ)，可對(duì)存儲(chǔ)讀數(shù)求zui大...
0.5%基本精度，分辨率達(dá)0.01%...
自動(dòng)關(guān)機(jī)功能
采用SMT表面貼裝工藝
電流源方向有正方向、反方向和正反方向...
報(bào)警門限預(yù)設(shè)，可用于HI PASS ...
USB通訊功能，可通過(guò)上位機(jī)軟件對(duì)手...
讀數(shù)穩(wěn)定性好
電池及外接電源供電方式
常州同惠TH2661四探針測(cè)試儀簡(jiǎn)要說(shuō)明
TH2661型四探針測(cè)試儀，可測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴(kuò)散層的薄層電阻，適用于半導(dǎo)體和太陽(yáng)能材料測(cè)試的要求，也可對(duì)分立電阻進(jìn)行測(cè)量，USB接口可為用戶提供遠(yuǎn)程控制及測(cè)試數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)和分析。 由于采用了電池和外接電源兩種供電方式，既能適應(yīng)固定場(chǎng)合對(duì)元器件進(jìn)行檢測(cè)，又可隨身攜帶以滿足測(cè)試人員的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試要求。
常州同惠TH2661四探針測(cè)試儀指標(biāo)參數(shù)
產(chǎn)品型號(hào)：TH2661
電阻類測(cè)試儀器
電流方向正向 / 反向 / 正反向
數(shù)學(xué)功能值偏差, 百分比偏差
顯示器五位LCD顯示
顯示方式直讀，Δ%，ΔABS
校準(zhǔn)功能短路清零
測(cè)試端配置四端
一般技術(shù)指標(biāo)
工作環(huán)境
溫度0°C -- 40°C, 相對(duì)濕度≤ 90% R.H.
電源要求AC電源適配器輸入：220V（1±10%），50Hz（1±5%）；
輸出：12V-15V DC （訂貨時(shí)可選擇110V/60Hz）
工作電流zui大32 mA。
重量400g
尺寸 （H ? W ? D）200mm ? 95mm ? 40mm
基本準(zhǔn)確度0.5%
顯示范圍
電壓
電阻率
方阻
電阻
Δ%
0.2 – 220mV
0.01Ω•cm ~ 100kΩ•cm
0.01Ω/□ ~ 10MΩ/□
0.1 Ω — 2MΩ
-999.9% — 999.99%
測(cè)試電流100nA, 1uA, 10uA, 100uA, 1mA, 10mA
測(cè)量速度（次/秒）約 3 次/秒
比較器HI / PASS / LOW
量程方式自動(dòng),保持
觸發(fā)方式連續(xù)、數(shù)據(jù)鎖定
測(cè)量參數(shù)電壓, 電阻率, 方阻, 電阻
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國(guó)產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛(ài)斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽(yáng)SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 博勒飛Brookfield
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 愛(ài)色麗X-Rite/電色NIPPON
- 物料輪廓顏色缺料視覺(jué)篩選
- 梅特勒METTLER
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- 紅外熱像儀
- ADCMT愛(ài)德萬(wàn)ADVANTEST
- 美國(guó)BK PRECISION
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(zhǎng)盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國(guó)產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長(zhǎng)盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- SHIMAZU島津
- 德維創(chuàng)DEWETRON
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